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10nm以下の欠陥を数十倍の速度で検査、日立ハイテクとZEISSが次世代検査装置の開発を加速

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各媒体の報道(古い順)

  1. マイナビニュース
    10nm以下の欠陥を数十倍の速度で検査、日立ハイテクとZEISSが次世代検査装置の開発を加速

    日立ハイテクとZEISS Semiconductor Manufacturing Technology(ZEISS SMT)は、先端半導体の量産工程に向けた次世代マルチビーム電子線検査装置の共同開発体制を強化する。日立ハイテクの電子線・光学…

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  2. PR TIMESプレスリリース
    日立ハイテクとZEISS社が次世代マルチビーム電子線検査装置の共同開発を加速

    [日立ハイテク] 株式会社日立ハイテク(以下、日立ハイテク)は、 ZEISS Semiconductor Manufacturing Technology (本社所在地:ドイツ、以下、ZEISS SMT)と共同で進めてきた半導体製造における…

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